무선 통신·레이더·고속 디지털 애플리케이션 지원
일체형 위상 노이즈·신호 소스 분석 솔루션 제공
 

키사이트테크놀로지스(이하 키사이트)가 직접 디지털 합성(DDS) 소스와 독점적인 교차 상관 채널에서 얻은 깨끗한 신호를 포함하는 올인원 플랫폼인 키사이트 SSA-X 신호 소스 분석기 시리즈의 새로운 고주파수 모델을 선보였다.

키사이트는 무선 주파수(RF) 엔지니어들에게 고급 무선 통신, 레이더, 고속 디지털 애플리케이션을 위한 통합된 일체형 위상 노이즈 및 신호 소스 분석 솔루션을 제공하는 세 개의 새로운 고주파수 모델(26.5 GHz, 44 GHz, 54 GHz)로 확장된 SSA-X 신호 소스 분석기 포트폴리오를 21일 공개했다.

진화하는 기술과 새로운 고급 표준의 등장으로, 높은 주파수와 데이터 대역폭 및 데이터 전송 속도를 지원하기 위해 더욱 정밀하면서 깨끗한 신호 소스와 가장 낮은 수준의 위상 노이즈 및 지터가 요구된다. 

반면 이러한 애플리케이션에 대한 신호 소스의 위상 노이즈와 지터를 테스트 및 평가하는 작업에는 다수의 장비가 연결된 굉장히 복잡한 구성이 필요하며 많은 시간이 소요된다. 

또한 RF 엔지니어들은 합성기, 클럭, 오실레이터와 같은 신호 소스를 완벽하게 특성화하기 위해 주파수 및 순시 전력 측정과 같은 다른 측정 작업과 스펙트럼 분석 작업도 진행해야 하며 신호 및 데이터 전송 경로에 사용된 능동 디바이스의 잔류 위상 노이즈를 측정해야 할 수도 있다.

새로운 키사이트 SSA-X 신호 소스 분석기 시리즈 제품은 위상 노이즈 측정, 잔류 노이즈 측정, 순시 측정, 스펙트럼 분석, 네트워크 분석, 전압 제어식 오실레이터(VCO) 특성화를 포함해 하나의 박스에서 포괄적인 신호 소스 분석 기능을 제공한다. 

최대 54 GHz에서 작동하는 깨끗한 내장형 신호 소스와 두 개의 RF 입력을 통해 추가 장비와 재구성 없이 잔류 노이즈를 측정할 수 있다. 

두 개의 로컬 오실레이터(LO) 출력 및 중간 주파수(IF) 입력 포트 쌍과 키사이트의 새로운 E5051AW 위상 노이즈 측정 하위 변환기/위상 감지기를 통해 54 GHz 이상에서 밀리미터파 위상 노이즈 측정이 가능하며, 2포트 벡터 네트워크 분석기(VNA) 옵션을 통합하면 독립형 VNA를 구매할 필요가 없어진다.  

또한, 위상 노이즈가 아주 낮은 내부 LO 및 RF 소스를 사용해 정확한 절대 및 잔류 위상 노이즈 측정값을 제공하며, 단일 연결과 사용하기 쉬운 인터페이스를 통해 수많은 측정 작업을 빠르게 수행할 수 있다. 

어플리케이션 소프트웨어는 스펙트럼 분석기 및 정밀 클럭 지터 분석을 포함해 더 많은 측정 요구를 충족할 수 있도록 개선되었으며 시간 및 주파수 도메인에서 정확한 랜덤 지터(RJ) 및 주기적 지터(PJ) 측정값을 제공한다. 

SSA-X는 SSA와 비교했을 때 20% 더 높은 감도로 지터를 측정할 수 있으며 10 GHz를 기준으로 2펨토초의 감도를 가져 고급 고속 디지털 통신 애플리케이션에 적합하다.

조 리커트(Joe Rickert) 키사이트 고주파수 측정 우수성 센터 총괄 관리자 겸 부사장은 “SSA-X 신호 소스 분석기 시리즈는 RF 엔지니어들에게 고급 통신 및 고속 디지털 어플리케이션을 위한 위상 노이즈 및 지터 측정 솔루션을 제공하는 통합된 일체형 솔루션을 제공한다”며 “최대 54 GHz의 주파수를 지원하는 세 가지 모델이 SSA-X 시리즈에 새롭게 추가되면서, 더 정확하고 높은 품질의 평가가 가능해져, 시장에 첨단 기술을 더 빠르게 선보일 수 있게 되었다”고 덧붙였다.