NI, 전자/반도체·무선통신·5G분야 테스트기술포럼 개최
고객 사례 소개하며 커스터마이징 적극 지원

내쇼날인스트루먼트(NI)가 6월 15일(목) 양재 엘타워에서 NI테스트기술포럼을 개최하고 전자/반도체, 무선통신 5G분야의 엔지니어링 과제 해결방법을 제시했다.

행사는 NI의 PXI&모듈형 계측기 권순묵 대리가 개회사로 ‘Smart Device Test and Future Wireless Technology’를 발표하며 시작했다. 권 대리는 앞선 NI리더쉽 포럼에 참가한 엔지니어들이 어려운 점으로 빠른 시장 출시기간, 기술 융복합, 낮은 R&D비용, 기술간 표준화를 어려운 점으로 언급했다며 “NI는 자체적으로 지원하는 분야 이외에 호환성을 높이기 위한 언어와 통신 프로토콜, NI 랩뷰(Lab VIEW)를 제공하고 있다”며 관련 사례들을 소개했다.

NI는 1986년에 랩뷰를 출시한 후 31년간 변화 흐름에 맞춰 고객 맞춤형 커스터마이징에 집중했고 올해 5월에는 NI 랩뷰의 업그레이드 버전인 랩뷰NXG 출시했다. 권대리는 "현재 NI 랩뷰NXG가 데이터 수집과 계측 기능만 지원하고 있지만 점차 5G산업 분야에 적합하게 개선해 나갈 것"이라고 말했다.



전자/반도체 세션은 ▲비용 효율적으로 구성하는 All in One 계측기 ▲효율적인 혼합 신호 IC 테스트를 위한 솔루션 ▲PXI기반 ATE급 Vector 테스트 솔루션 ▲RFIC 테스트 챌린지와 FEM (Front-End-Module) 테스트 기술 ▲NI 반도체 양산 테스트 솔루션(LNA Wafer Test)과 적용 사례를 발표했다.

5G/ 무선통신 분야는 ▲3GPP, 5G New Radio 표준과 업계 연구 동향 ▲5G 통신 프로토타이핑 ▲초고대역폭 채널라이저와 멀티 캐리어 어그리게이션 ▲802.11ax: High-Efficiency Wireless LAN Testing ▲NFC & 무선 충전 인증 및 기술 동향을 발표했다.

6월 28일(수) 대전 컨벤션 센터에서 같은 주제의 NI테스트기술포럼이 열린다.