| AFG 중 가장 큰 9인치 정전식 터치스크린 탑재
| 인스타뷰, DUT 입력 파형을 바로 모니터링
| 아브빌더, 임의 파형 테스트 효율 개선

텍트로닉스가 12일, 임의 함수 발생기(Arbitrary Function Generator, AFG) ‘AFG31000 시리즈’를 발표했다. 
AFG31000은 직관성 높은 터치스크린과 새로운 UI를 적용했다. 더불어 여러 고급 측정 기능을 탑재하여 대상 디바이스의 디버깅, 문제 해결, 분석, 검증을 위해 점점 복잡해지는 테스트 시나리오를 고민해야 하는 엔지니어와 연구원들을 만족시킨다.

임의 함수 발생기는 전자기기 테스트 등에 광범위하게 활용됨에도  불구하고, 디스플레이 화면이 작거나, 기타 학습 및 작동 상의 어려움 등의 애로사항으로 다른 테스트 기기 대비 활용성이 떨어졌다. 

또 최적의 테스트 효율에 중요한 복합적 타이밍으로 일련의 테스트 사례를 작성하는 데 필요한 충분한 메모리 및 프로그래밍 기능이 부족하였다. AFG31000은 이러한 문제를 극복한 차세대 임의 함수 발생기다.
AFG31000 시리즈는 AFG 중에 가장 큰 9인치 정전식 터치스크린이 탑재되어 있어 단일 화면의 약식 메뉴 트리 내에서 모든 관련 설정 및 매개 변수를 볼 수 있다. 최신 터치식 스마트 기기와 마찬가지로 탭하거나 스와이프하여 설정을 손쉽게 선택, 탐색, 검색, 변경할 수 있다. 직관적인 사용자 인터페이스는 사용자가 기기를 학습하고 작동하는 데 드는 시간을 절약해 주므로 생산성과 효율이 증가한다.

기존의 AFG는 50Ω의 임피던스를 구동 중이라고 가정한다. 하지만 대부분의 테스트 대상 장치(DUT)에는 50Ω의 임피던스가 아닌 경우가 많다. 이러한 불일치로 인해 AFG에 설정된 파형과 DUT의 신호 간에 임피던스 매칭 문제가 발생한다. 

AFG31000 시리즈의 새로운 인스타뷰(InstaView) 기능은 케이블이나 기기에 대한 영향을 별도로 오실로스코프로 확인할 필요 없이 DUT에 입력되는 파형을 바로 모니터링하고 표시할 수 있다. 

디스플레이에 표시되는 파형은 주파수, 진폭, 파형의 변화는 물론 DUT의 임피던스 변화에도 즉시 반응하므로 시간이 절약되고 신뢰도가 높아진다.

AFG31000 시리즈는 기존의 AFG 작동 모드에 고급 또는 파형 시퀀서 모드를 추가로 제공한다. 고급 모드에서는 기기 파형 메모리의 최대 128Mpts가 최대 256개 항목으로 분할될 수 있으며, 사용자는 시퀀서에서 긴 파형이나 여러 파형을 끌어서 놓는 방식으로 출력 파형을 빠르고 간편하게 정의할 수 있다. 
AFG31000 시리즈에 내장된 대형 정전식 터치스크린과 새로운 아브빌더(ArbBuilder) 툴을 사용하면 PC에서 파형을 생성하여 기기에 전송할 필요 없이 기기에서 바로 임의 파형을 생성하고 편집할 수 있다. 

아브빌더는 특히 자주 변경되어야 하는 임의 파형의 테스트 효율을 개선한다. 오실로스코프에서 포착한 파형을 복제하려는 사용자는 파형을 ‘.csv’ 파일로 저장하고 아브빌더를 사용하여 AFG31000에 바로 로드할 수 있다.

AFG의 한계를 잘 알고 있는 현 AFG 사용자는 AFG31000 시리즈의 새로운 시퀀싱 기능과 아브빌더 기능을 통해 생산성과 효율성의 향상을 체감할 수 있다. TZ 메디컬의 엔지니어링 관리자 존 무어(John Moore)는 “AFG31000의 고급 기능으로 일반적인 설정 및 테스트 주기를 거의 절반 정도 단축시킬 수 있었다”고 밝혔다.

AFG31000 시리즈 기기는 1채널 또는 2채널 구성으로 제공되며, 250MSa/s, 1GSa/s 또는 2GSa/s의 샘플 레이트 성능과 14비트 수직 해상도를 제공한다. 또한 기존의 AFG 모드에서는 파형 길이와 샘플 레이트에 대한 걱정 없이 주파수를 변경할 수 있다. 50Ω 부하에서 출력 진폭 범위는 1mVP-P~10VP-P이다.