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[반도체대전 2022]텍트로닉스 박영준 이사, “WBG 소자 시대 SiC·GaN 계측 솔루션 제공”

기사입력 2022.10.13 14:40

▲박영준 텍트로닉스 이사
 
핸드헬드서부터 고전압에 이르는 계측 포트폴리오 多
PCIe·와이드 밴드 갭 등 최신 트렌드 오실로스코프 선

[편집자주] 와이드 밴드 갭(WBG) 특성을 가진 반도체 소자들이 차세대 기술로 각광 받으며 계측기 시장에서도 관련 기술을 타깃으로 한 제품들이 속속 등장하고 있다. 휴대성을 강조하며 저속 시리얼 측정이 가능한 제품군서부터 PCIe 등 70GHz 대역폭까지 커버하는 고속 시리얼 측정 장비에 이르기까지 전자산업의 감초와도 같은 계측 솔루션에 시선이 몰리고 있다.

이에 박영준 텍트로닉스 이사를 만나 관련 이야기를 들어봤다.

■ 텍트로닉스 계측 솔루션

텍트로닉스에서는 저속 시리얼을 측정하는 일반 핸드헬드(Hand-held) 타입의 일반적인 오실로스코프에서부터 미드레인지급의 5시리즈, 6시리즈 솔루션을 선보이고 있다.

선보이는 장비는 고속 시리얼용, 고속 인터페이스를 측정하는 PCI 익스프레스 등 USB 같은 고속 시리얼을 측정할 수 있는 솔루션까지 토탈 솔루션을 소개하겠다.

■ 2시리즈 오실로스코프

2시리즈 스코프는 70MHz에서 500MHz의 대역폭을 갖고 있으며 핸드헬드 타입으로 얇게 설계가 돼서 나온 타입의 스코프이다. 
 

▲2시리즈 오실로스코프

배터리 타입으로 지원을 하기 때문에 배터리팩을 2개 장착했을 경우에 전원 공급 없이 8시간까지도 측정할 수 있는 장비이다.

Bandwidth가 70MHz에서 500MHz의 신호를 측정할 수 있기 때문에 대부분의 신호를 캡처할 수 있는 고사양의 핸드헬드 타입 오실로스코프이다.

거치대를 통해 측정할 수 있고, 전체 무게는 배터리 2개를 탑재했을 때 약 3.6kg의 무게를 갖고 있다. 실제 테스트할 때 엔드 유저들이나 예컨대 차량용 또는 온사이트에 나가서 측정할 때 상당히 유리한 장비라고 볼 수 있다.

일반적인 오실로스코프이기도 하지만 버스의 지원에 따라서 I2C나 SPI, 일반적인 시리얼 등도 모두 지원이 가능하기에 교육용 또는 오토모티브에 가장 적합한 솔루션이라고 말할 수 있다.

■ 와이드 밴드 갭 DPT 솔루션
 

▲5시리즈 오실로스코프

이것은 좀 유니크한 솔루션이라고 볼 수 있다. 반도체쪽에선 SiC나 GaN이 요즘 화두로 떠오르고 있다. 그래서 GaN이나 SiC 디바이스에 대한 어떤 타이밍 그리고 전압 전류의 특성을 보기 위해서 여기에 소개된 솔루션인 DPT, 와이드 밴드 갭 DPT에서도 더블 펄스 테스트에 대한 솔루션이 있다.

실제로 2-On 2-Off 그리고 Peak Voltage 또는 타임의 어떤 턴온이나 턴오프에 대한 타이밍 보드를 전체적으로 볼 수 있기 때문에 와이드 밴드 갭에 있는 일반적인 턴온 타이밍, Peak Voltage 그리고 각각의 Joule 값을 계산해서 파워를 계산할 수 있는 솔루션으로 텍트로닉스는 DPT 솔루션을 이번에 출시했다.

와이드 밴드 갭이나 SiC, GaN을 개발하는 소자 특성 혹은 어떤 전기적 특성을 보는 데 상당히 유리한 솔루션이라고 할 수 있다.

■ 텍트로닉스 70000시리즈

고속 시리얼을 측정하는 시장에서 요구들이 많이 있다. 그래서 디스플레이 칩이라든지 또는 PCIe의 SSD 카드, DDR 메모리를 측정할 때 사용되는 70000시리즈가 있으며 텍트로닉스에서 갖고 있는 가장 고사양 장비이기도 하다. 이 고사양 장비의 대역폭은 작게는 13GHz부터 크게는 70GHz 대역폭을 가진다.

현존하는 시리얼 인터페이스에서 가장 각광 받고 있는 것은 PCIe Gen 5과 Gen 6이다. 실제 PCIe Gen 5 같은 경우에는 SSD 카드를 개발하는 벤더들, 국내 굴지의 기업들이 Gen 5 솔루션을 적용했으며, 트랜스미터 또는 리시브와 관련된 컴플라이언스 테스트를 텍트로닉스 장비로 진행하고 있다.

텍트로닉스에서 보유한 2시리즈에서부터 5시리즈, 6시리즈 그리고 70GHz에 해당하는 70000 SX/DX 장비를 소개했다. 향후 텍트로닉스에서 계속 출시가 될 예정인 많은 솔루션을 통해서 만나뵙도록 하겠다.

감사합니다.
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